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                介电常数及介质损耗测量方法介绍

                更新时间:2025-06-28      点击次数:94

                1、传输线法

                传输线法测量是(介电值)和(磁导率)主流测量方法,可在范围频率内的设定任意频率点上进行测量。输线法需要将材料置于一部分封闭的传输线内部,其线路是使用一段矩形波导或同轴空气线,根据反射信号(S11)和传输信号(S21)的测量结果计算得出。

                传输线要求,样品填充到治具横截面中,治具壁没有空隙,表面平坦光滑,与长轴垂直均匀介质。

                碳纤维、吸波材等材料在雷达、航天等做吸收或是屏蔽电波,多采用此方法。

                1.1同轴法

                测试范围:100M~18G

                样品要求:环状,材料需加工;表面光滑,并且两个端面与传输线的轴线垂直;样品长度和测试频率相关,其量测精准度与样品工艺息息相关。

                方案配置:网分+同轴夹具+软件+TRL校准件


                图1WR同轴方案夹具.jpg

                 图1WR同轴方案夹具

                1.2波导法

                测试范围:100M~110G(频率分段)

                样品要求:矩形块状,材料需加工;表面光滑,并且两个端面与传输线的轴线垂直;测试频率与规范要求相关。频率越高,样品越小,尺寸要求更精细,量测精准度很大程度取决于样品制作工艺。

                方案配置:网分+波导夹具+软件+OSL校准件。

                使用新一代的波导夹具可易于做校正,避免漏波使数据更精准。

                下图是波导夹具:


                图2WR波导夹具.jpg

                图2WR波导夹具

                2、共振法

                共振法优点是,相对众多量测方式有较高的值,非常适合用于(lowDf)低损耗的材料验证与开发,如PCB板前沿材料、(CCL)覆铜板的介电基材,PP玻璃纤维,树酯,氟系材料。聚酰亚胺(PI)等。

                测量方法:是将一片材料样品插入到腔体中,会改变腔体的共振频率(f)和品质因子(Q)。根据这些测得的参数,可以计算出材料在某一频率上的复数介电常数。典型的测量系统由网络分析仪、共振腔体治具以及计算软件组成。

                共振腔法也有许多不同的子方法和治具类型:分离式圆柱谐振腔(Split Cavity Resonator)、分离柱电介质谐振腔(Split Post Dielectric Resonator)和于共振法开发的液态,粉态与固态测试夹具,以下介绍三种共振腔。

                2.1分裂圆柱谐振器

                SCR(Split Cylinder Resonant)分裂圆柱共振器是分成两半的柱状共振腔体。

                样品夹入到两个半柱的中间。一个半柱是固定的,另一个是可调节的,来适应不同厚度的样品。根据样品厚度、柱长以及分裂圆柱共振器在空载和载入样品两种条件下的S参数测量结果,可以计算出介电常数和损耗正切或、。

                优点:

                1、SCR10GHz可提供值24000,可达10的负6次方的辨识度与稳定度;

                2、一颗SCR10GHz提供多频率点量测;

                3、可进行TCDK-50~+150度高低温量测;

                4、测试软件可搭配进口或是国产网络分析仪。

                规范:IPC TM650 2.5.5.13

                测试范围:10GHz-84GHz共七种。

                值:24000。

                量测温度范围:-50~+150℃。

                样品要求:薄膜,片状,样品厚度与量测频率相关。

                适合应用:TCDK,产品开发。

                图3SCR10G搭配R_SZNB方案.jpg

                图3SCR10G搭配R&SZNB网络分析仪方案

                图4WRSCR84G搭配是德110GHz.jpg

                图4WRSCR84G搭配是德110GHz 网络分析仪

                SCR用于TCDK变温测量:

                因使用环境温度与高速环境下,温度已被列为设计方量测参考因素之一。SCR搭配变温箱与程控软件实现-50度~+150度变温量测。如左下图,全自动量测,省时省力,数据稳定度与再现性高符合趋势如右下图:

                图5-TCDK方案框架.jpg

                 图5 TCDK方案框架

                图6-TCDK方案数据.jpg

                 图6 TCDK方案数据

                2.2分离介质共振器

                SPDR(Split Post Dielectric Resonator)分离介质共振器采用低损耗介电材料构建,上下有两个圆柱陶瓷材质与工艺,决定量测频率于量测精度。其值稳定度不亚于SCR腔体。

                SPDR方案操作简单,是市场上常见的方案,但因为结构问题,维护成本相比于SCR要高。

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                规范:IPC TM650 2.5.5.15

                测试范围:1GHz~20GHz单点频率。

                Q值:12000

                测量温度范围:室温

                样品要求:薄膜,片状,样品厚度与平整度影响准确度

                应用行业:PCB进料检验,玻璃纤维行业在玻璃/玻纤布、测量碳纤维布,

                其他:WR SPDR腔体可提供维修与每年校验。

                2.3液体/粉末与陶瓷介电材料测量夹具

                因应AI时代高速产品对于产品开发需求,WR开发适合于前沿材料液体/粉末型态样品测试夹具,产品简称PLS100??删蓟乖牧系慕橹仕鸷钠浞直媛士纱?x。

                有别于他牌探头型测试方案,PLS100采用谐振法使用空气为介质进行空腔校正。封闭型腔体测试可避免反射/干涉频率影响,对于量测有着高辨识度,数据再现性高,精度可达3%。。


                图-7-PLS100以空气为介质进行空腔量测数据.jpg

                 图 7 PLS100以空气为介质进行空腔量测数据

                图-8-PLS100实物.jpg

                图 8 PLS100实物

                测试范围:5GHz~14GHz单点频率。

                Q值:10000

                测量温度范围:室温

                样品要求:液体/粉末

                应用行业:覆铜板的树酯,伺服器冷却液,玻璃纤维粉末

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